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    當前位置:首頁產品中心高低溫試驗箱GDW-100高低溫試驗箱GDW-150高低溫試驗箱型號

    高低溫試驗箱型號

    產品簡介

    高低溫濕熱試驗設備一般采用日本“富士" 溫度控制儀表,智能型數顯PID微電腦溫度控制儀表,薄膜式按鍵,觸控式設定、數位及直接顯示,感溫傳感器采用PT100鉑電阻測試器。溫度控制采用熱平衡調溫方式。時間任意設定的功能。設備的主要電器元件如斷路器、交流接觸器、小型繼電器均采用“施耐德"品牌,其他電器附件采用國產。

    產品型號:GDW-150
    更新時間:2024-08-25
    廠商性質:生產廠家
    訪問量:2377
    詳細介紹在線留言

    本產品滿足GB2423.1-2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2-2001試驗B《低溫試驗方法》等標準,以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造,可進行各種高低溫環(huán)境試驗

    一、主要技術參數
     
    溫度范圍
       A型: 0℃~130℃       B型: -20℃~130℃       C型: -40℃~130℃  
       D型: -60℃~130℃     E型: -70℃~130℃
       溫度均勻度:   ≤ 2℃  (空載時)
       溫度波動度:   ±0.5℃ (空載時)
       溫度偏差:   ≤±2℃
       降溫速率:  1.0℃/min  (空載時)
       時間設定范圍:   0~999.9 小時分鐘秒參照標準 
     
    型號         工作室尺寸(深×寬×高)mm    外形尺寸(深×寬×高)mm         功率 (KW)
     GDW-100B型      400×500×500                   1100×950×1650            3.0
     GDW-150B型      500×500×600                   1200×950×1730            3.0
     GDW-225B型      500×600×750                   1200×1050×1850           3.5
     GDW-500B型      700×800×900                   1350×1280×2100           5.0
     GDW-800B型      800×1000×1000                 1450×1480×2200           7.0
     GDW-010B型      1000×1000×1000                1650×1480×2200           9.0

    二、結構設計
        高低溫試驗設備外殼采用A3鋼板表面進行噴塑處理,圓弧型設計,線條流暢自然。內膽為SUS304不銹鋼板,能恒定控制試驗溫差±2℃。室內的樣品架及其它附件配件均為SUS304不銹鋼材料制作。設備對的保溫材質:高密度玻璃纖維棉,箱門設置一個透明窗口,用以觀測室內試樣的變化。觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內側膠合片式導電膜.

        攪拌系統(tǒng)采用長軸風扇電機,使實驗室內的溫度均勻并保持穩(wěn)定。門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條,測試孔(機器左側)可外接測試電源線或信號線使用(孔徑或孔數可根據客戶指示)。設備的制冷系統(tǒng)安裝在底部,壓縮機采用法國泰康牌,以確保制冷效果及可靠性,制冷劑采用環(huán)保型。機器底部安裝可固定式PU活動輪,可以很方便地將機器移到位置,zui后將腳輪固定。

      隨著現(xiàn)代工業(yè)技術的迅速發(fā)展,電工、電子產品的應用領域日益廣闊,所經受的環(huán)境條件也愈來愈復雜多樣。只有合理地規(guī)定產品的環(huán)境條件,正確地選擇產品的環(huán)境防護措施,才能保證產品在儲存運輸中免遭損壞,在使用過程中安全可靠。因而,電工、電子產品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學概括,具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設備提出了更嚴格的要求。

       高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性,設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內溫度的均勻性,試驗時試驗樣品不會受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。

     

     

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